本院物理學系藍彥文教授研究團隊，攜手國立臺灣大學物理學系邱雅萍教授團隊，以及新加坡國立大學暨臺師大玉山學者李連忠教授，共同突破二維半導體電晶體接觸工程的重要瓶頸，首度直接量測二維半導體電晶體中的電子轉移長度（Carrier Transfer Length），為未來奈米尺度電晶體設計提供重要實驗依據。
研究團隊成功結合電性量測與原子尺度顯微技術，直接觀察電子於金屬與二維半導體接觸界面的傳輸行為，驗證二維半導體持續微縮的發展潛力，並為下一世代人工智慧晶片、低功耗運算及先進半導體技術奠定重要基礎。
本研究成果已於2026年7月1日發表於國際頂尖期刊《Nature》，展現本校在二維半導體元件、奈米電子學及跨領域國際合作研究的卓越成果。
節錄自師大新聞：https://pr.ntnu.edu.tw/news/index.php?mode=data&id=24759
